Electrical characterization and reliability study of HEMTs on composite substrates under high electric fields.

• Autores: A. Tazzoli, G. Meneghesso, F. Zanon, F. Danesin, E. Zanoni, P. Bove, R. Langer, J. Thorpe
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1370-1374
• Idioma: inglés
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