Detection of localized UIS failure on IGBTs with the aid of lock-in thermography.

• Autores: G. Breglio, A. Irace, E. Napoli, M. Riccio, P. Spirito, K. Hamada, T. Nishijima, T. Ueta
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1432-1434
• Idioma: inglés
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