Periodo de publicación recogido
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Detection of localized UIS failure on IGBTs with the aid of lock-in thermography.
G. Breglio, A. Irace, E. Napoli, M. Riccio, P. Spirito, K. Hamada, T. Nishijima, T. Ueta
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1432-1434
Study of a failure mechanism during UIS switching of planar PT-IGBT with current sense cell.
G. Breglio, A. Irace, E. Napoli, P. Spirito, K. Hamada, T. Nishijima, T. Ueta
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1756-1760
Education & training for rebuilding new libya to be a nation of leaders in global matters
S.P. Bindra, S. Abulifa, A. Hamid, H.S. Al Reiani, K. Hamada
ICERI 2013 / Luis Gómez Chova (comp.), A. López Martínez (comp.), I. Candel Torres (comp.), 2013, ISBN 978-84-616-3847-5, págs. 7226-7236
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