Effects of the electrical stress on the conduction characteristics of metal gate/MgO/InP stacks.

• Autores: Enrique Alberto Miranda, J. Martin-Martinez, E. O'Connor, G. Hughes, P. Casey, K. Cherkaoui, S. Monaghan, R. Long, D. O'Oconnell, P.K. Hurley
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1052-1055
• Idioma: inglés
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