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Effects of the electrical stress on the conduction characteristics of metal gate/MgO/InP stacks.
Enrique Alberto Miranda, J. Martin-Martinez, E. O'Connor, G. Hughes, P. Casey, K. Cherkaoui, S. Monaghan, R. Long, D. O'Oconnell, P.K. Hurley
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1052-1055
Enrique Alberto Miranda
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1604-1607
Generalized Interstory Drift Spectrum
Enrique Alberto Miranda, S. D. Akkar
Journal of structural engineering, ISSN 0733-9445, Vol. 132, Nº 6, 2006, págs. 840-852
K.-C. Chang, Y.-Y. Lin, Enrique Alberto Miranda
Earthquake engineering & structural dynamics, ISSN 0098-8847, Nº. 11, 2005, págs. 1427-1443
Soft and hard breakdown in ultrathin SiO2 films
Enrique Alberto Miranda
Bellaterra (Barcelona) : Publicacions de la Universitat Autònoma de Barcelona, 1999. ISBN 84-490-1663-0
Soft and hard breakdown in ultra-thin sio2 films
Enrique Alberto Miranda
Tesis doctoral dirigida por Jorge Francisco Suñe Tarruella (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (1999).
Degradación y conducción multifilamentaria en estructuras MIS/MIM basadas en HfO2
Tesis doctoral dirigida por Enrique Alberto Miranda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2021).
Analysis and modeling of filamentary conduction in hfo2-based structures
Tesis doctoral dirigida por Mireia Bargalló González (dir. tes.), Enrique Alberto Miranda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2018).
Tesis doctoral dirigida por Enrique Alberto Miranda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2017).
Filamentos conductores de ruptura dieléctrica en aislantes delgados
Xavier Saura Mas
Tesis doctoral dirigida por Jorge Francisco Suñe Tarruella (dir. tes.), Enrique Alberto Miranda (dir. tes.). Universitat Autònoma de Barcelona (2014).
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