Reliability analysis of InGaN Blu-Ray laser diode.

• Autores: N. Trivellin, M. Meneghini, G. Meneghesso, E. Zanoni, K. Orita, M. Yuri, T. Tanaka, D. Ueda
• Localización: Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1236-1239
• Idioma: inglés
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