M.A. Belaïd

• Artículos de revistas (3)
• Colaboraciones en obras colectivas (1)

• Artículos de revistas

  • Performance analysis of S-parameter in N-MOSFET devices after thermal accelerated tests

    M.A. Belaïd

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 91-1, 2018, págs. 8-14

    • Resumen
    

  • Study of hot-carrier effects on power RF LDMOS device reliability.

    M. Gares, M.A. Belaïd, H. Maanane, M. Masmoudi, J. Marcon, K. Mourgues, PH. Eudeline

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1394-1399

    

  • Comparative analysis of RF LDMOS capacitance reliability under accelerated ageing tests.

    M.A. Belaïd, K. Ketata, M. Gares, K. Mourgues, M. Masmoudi, K. Yasutake

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 1, 2007, págs. 59-64

    

• Colaboraciones en obras colectivas

  • Predicción de enfermedades periparto mediante el comportamiento de las vacas en el preparto

    M.A. Belaïd, M. Rodríguez‑Prado, Sergio Calsamiglia

    XVII Jornadas sobre Producción Animal: 30 y 31 de mayo de 2017, Zaragoza / coord. por Ana Olaizola Tolosana, José Alfonso Abecia Martínez, Mireia Blanco Alibés, Alberto Bernués Jal, Jorge Hugo Calvo Lacosta, María Ángeles Latorre Górriz, Jorge Palacio Liesa, Guillermo Ripoll García, 2017, ISBN 978-84-697-3065-2, págs. 779-781

    • Texto completo
    

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