Periodo de publicación recogido
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X. Qu, V.A. Vavilin, Laurent Mazéas, M. Lemunier, Christian Duquennoi, Pin-Jing He, Théodore Bouchez
Waste management, ISSN-e 0956-053X, Nº. 6, 2009, págs. 1828-1837
Board level drop test and simulation of leaded and lead-free BGA-PCB assembly.
X. Qu, Z. Chen, B. Qi, T. Lee, J. Wang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 2197-2204
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