K.-S. Chen

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• Artículos de revistas

  • Synergetic effects of wafer rigidity and retaining-ring parameters on contact stress uniformity in chemical mechanical planarization.

    I. Hu, T.-S. Yang, K.-S. Chen

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 56, Nº. 5-8, 2011, págs. 523-538

    

  • Development of a pad conditioning simulation module with a diamond dresser for CMP applications.

    H.-M. Yeh, K.-S. Chen

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 50, Nº. 1-4, 2010, págs. 1-12

    

  • Quality performance analysis for the whole product family with multiple characteristics: apply the cooling pump as an example

    C.T. Hsieh, K.-S. Chen, S. C. Chen

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 55, Nº. 3, 2010, págs. 187-188

    

  • Finite-element analysis on wafer-level CMP contact stress: reinvestigated issues and the effects of selected process parameters.

    K.-S. Chen, H.-M. Yeh, J.-L. Yan, Y.-T. Chen

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 42, Nº. 11-12, 2009, págs. 1118-1130

    

  • Selecting a better supplier by testing unilateral specification process capability indices CPL and CPU

    C H Leu, M.Y. Liao, K.-S. Chen

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 53, Nº. 3, 2008, págs. 247-248

    

  • Selecting a better supplier by testing unilateral specification process capability indices CPL and CPU

    C H Leu, M.Y. Liao, K.-S. Chen

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 53, Nº. 2, 2008, págs. 143-146

    

  • Promoting customer satisfactions by applying Six Sigma: An example from the automobile industry

    S. C. Chen, T. C. Hsia, K.-S. Chen

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 51, Nº. 2, 2006, págs. 181-182

    

  • Measuring banking operation performance by applying a process capability index

    S K Liang, Y H Hung, K.-S. Chen

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 50, Nº. 4, 2005, págs. 365-366

    

  • Application of neuro-fuzzy inference for process capability evaluation

    T W Chen, J Y Lin, K.-S. Chen

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 49, Nº. 5, 2004, págs. 513-514

    

  • Process capability analysis of a product family of larger-the-better type

    R K Li, S J Liao, K.-S. Chen

    Quality control and applied statistics, ISSN 0033-5207, Vol. 49, Nº. 4, 2004, págs. 379-380

    

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