Periodo de publicación recogido
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Adam Dobri, Simon Jeannot, Fausto Piazza, Carine Jahan, Jean Coignus, Luca Perniola, F. Balestra
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 47-51
M.A. Exarchos, G.J. Papaioannou, J. Jomaah, F. Balestra
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1018-1023
Low-frequency noise in advanced CMOS/SOI devices
J. Jomaah, F. Balestra
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 151, Nº 2, 2004, págs. 111-117
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