Periodo de publicación recogido
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Unified view on energy and electrical failure of the short-circuit operation of IGBTs
R. Baburske, F. J. Niedernostheide, H. J. Schulze, Riteshkumar Bhojani, J. Kowalski, J. Lutz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 236-241
Modeling knowledge-based system for optimum machine design: the design studies approach.
J. Kowalski
Métodos numéricos en ingeniería y ciencias aplicadas.: actas del Congreso Internacional sobre Métodos Numéricos en Ingeniería y Ciencias Aplicadas celebrado en la Universidad de Concepción, Chile, del 16 al 20 de noviembre de 1992. / coord. por H. Alder, J. C. Heinrich, Sergio Lavanchy Merino, Eugenio Oñate Ibáñez de Navarra, Benjamín Suárez Arroyo, Vol. 2, 1992, ISBN 84-87867-16-2, págs. 1068-1074
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