Periodo de publicación recogido
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Unified view on energy and electrical failure of the short-circuit operation of IGBTs
R. Baburske, F. J. Niedernostheide, H. J. Schulze, Riteshkumar Bhojani, J. Kowalski, J. Lutz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 236-241
Requirements in power cycling for precise lifetime estimation
Christian Herold, Jörg Franke, Riteshkumar Bhojani, Andre Schleicher, Josef Lutz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 58, 2016, págs. 82-89
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