Periodo de publicación recogido
|
|
|
Unified view on energy and electrical failure of the short-circuit operation of IGBTs
R. Baburske, F. J. Niedernostheide, H. J. Schulze, Riteshkumar Bhojani, J. Kowalski, J. Lutz
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 236-241
H. P. Felsl, J. Lutz, B. Heinze
IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 153, Nº 1, 2006, págs. 11-15
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados