Periodo de publicación recogido
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Luka Ključar, Mario González, Kristof Croes, Ingrid De Wolf, Joke De Messemaeker, Gayle Murdoch, Philip Nolmans, Joeri De Vos, Jürgen Bömmels, Eric Beyne, Zsolt Tőkei
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 297-305
Luka Ključar, Mario González, Ingrid De Wolf, Kristof Croes, Jürgen Bömmels, Zsolt Tőkei
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 93-100
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