Miloš Krstić

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• Artículos de revistas

  • Modeling and analysis of single-event transient sensitivity of a 65 nm clock tree

    Yuanqing Li, Li Chen, Issam Nofal, Mo Chen, Haibin Wang, Rui Liu, Qingyu Chen, Miloš Krstić, Shuting Shi, Gang Guo, Sang H. Baeg, ShiJie Wen, Richard Wong

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 24-32

    • Resumen
    

  • Study of the operation and SET robustness of a CMOS pulse stretching circuit

    Marko Andjelkovic, Miloš Krstić, Rolf Kraemer

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 100-112

    • Resumen
    

  • Enhanced architectures for soft error detection and correction in combinational and sequential circuits

    Miloš Krstić, Stefan Weidling, Vladimir Petrović, Egor S. Sogomonyan

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 212-220

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