Periodo de publicación recogido
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Thermo-mechanical reliability analysis of a RF SiP module based on LTCC substrate
Cheng Chen, Fengze Hou, Fengman Liu, Qian She, Liqiang Cao, Lixi Wan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 38-47
Wei Guo, Zheming Zhou, Cheng Chen, Xiang Li
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 239-252
Peng Wu, Fengze Hou, Cheng Chen, Jun Li, Fengman Liu, Jing Zhang, Liqiang Cao, Lixi Wan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 98-107
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