Huafeng Cao

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  • Design and optimization of LDMOS-SCR devices with improved ESD protection performance

    Hailian Liang, Huafeng Cao, Xiaofeng Gu, Zixiang Guo

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 115-119

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  • Investigation on LDMOS-SCR with high holding current for high voltage ESD protection

    Hailian Liang, Xiuwen Bi, Xiaofeng Gu, Huafeng Cao, Yun Zhang

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 120-124

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