Periodo de publicación recogido
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Investigation on LDMOS-SCR with high holding current for high voltage ESD protection
Hailian Liang, Xiuwen Bi, Xiaofeng Gu, Huafeng Cao, Yun Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 61, 2016, págs. 120-124
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