Periodo de publicación recogido
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A voltage-transient method for characterizing traps in GaN HEMTs
Xiang Zheng, Shiwei Feng, Yifu Gao, Yamin Zhang, Yunpeng Jia, Shijie Pan
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 93, 2019, págs. 57-60
Zhiheng Liao, Chunsheng Guo, Ju Meng, Boyang Jiang, Li Gao, Ya Su, Ruomin Wang, Shiwei Feng
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 74, 2017, págs. 52-57
Xiang Zheng, Shiwei Feng, Yamin Zhang, Junwei Yang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 46-51
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