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Corriente quiescente de circuitos VLSI: Simulación del entorno analógico del defecto
Luz Balado, Joan Figueras Pamies, Antonio Rubio, V. Champac, Rosa Rodríguez Montañes, S. Segura
VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 245-250
Testabilidad por corriente de defectos puente en celdas de registros "scan path"
Rosa Rodríguez Montañes, Joan Figueras Pamies, Antonio Rubio
VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 293-298
Análisis de fallos introducidos por diseño en circuitos CMOS VLSI
Jaume Agapit Segura Fuster, V. Champac, Rosa Rodríguez Montañes, Joan Figueras Pamies, A. Rubio
Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 27-31
Fallos del tipo puente entre líneas de entrada y salida en circuitos de tecnología CMOS
Rosa Rodríguez Montañes, Joan Figueras Pamies, Antonio Rubio
Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 165-170
Caracterització elèctrica de circuits CMOS digitals amb defectes tipus pont: implicacions al test per corrent quiescent
Rosa Rodríguez Montañes
Tesis doctoral dirigida por Joan Figueras Pamies (dir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (1993).
Enhancement of defect diagnosis based on the analysis of CMOS DUT behaviour
Daniel Arumi Delgado
Tesis doctoral dirigida por Rosa Rodríguez Montañes (dir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (2008).
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