V. Champac

• Artículos de revistas (3)
• Colaboraciones en obras colectivas (3)
• Tesis (1)
• Tesis dirigidas (1)

• Artículos de revistas

  • Effectiveness of a hardware-based approach to detect resistive-open defects in SRAM cells under process variations

    A.F. Gomez, F. Lavratti, G. Medeiros, M. Sartori, L. Bolzani Poehls, V. Champac, F. Vargas

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 67, 2016, págs. 150-158

    • Resumen
    

  • Test of data retention faults in CMOS SRAMs using special DFT circuitries

    V. Champac

    IEE Proceedings: Circuits, devices and systems, ISSN 1350-2409, Vol. 151, Nº 2, 2004, págs. 78-82

    

  • Guest Editorial

    F. Vargas, V. Champac

    Journal of electronic testing: Theory and applications, ISSN 0923-8174, Nº. 4, 2004, págs. 331-332

    

• Colaboraciones en obras colectivas

  • Corriente quiescente de circuitos VLSI: Simulación del entorno analógico del defecto

    Luz Balado, Joan Figueras Pamies, Antonio Rubio, V. Champac, Rosa Rodríguez Montañes, S. Segura

    VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 245-250

    • Resumen
    

  • Caracterización de biestables con el defecto de puerta flotante

    V. Champac, Joan Figueras Pamies, Antonio Rubio

    VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 287-292

    • Resumen
    

  • Análisis de fallos introducidos por diseño en circuitos CMOS VLSI

    Jaume Agapit Segura Fuster, V. Champac, Rosa Rodríguez Montañes, Joan Figueras Pamies, A. Rubio

    Diseño de circuitos integrados: actas del VI Congreso. Santander, 11/15 de noviembre de 1991, 1991, ISBN 84-87412-61-0, págs. 27-31

    • Resumen
    

• Tesis

  • Caracterización del defecto de puerta flotante y su detección en circuitos CMOS digitales

    V. Champac

    Tesis doctoral dirigida por Joan Figueras Pamies (dir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (1993).

    • Resumen
    

• Tesis dirigidas

  • Reliabilty enhancement of nanometer-scale digital circuits

    Héctor Luis Villacorta Minaya

    Tesis doctoral dirigida por V. Champac (dir. tes.), Jaume Agapit Segura Fuster (dir. tes.). Universitat de les Illes Balears (2016).

    • Resumen
    

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