Instituciones
Área de conocimientoPáginas webPeriodo de publicación recogido
|
|
|
Academic network for microelectronic test education
F. Novak, A. Biasizzo, Y. Bertrand, M.-L. Flottes, Luz Balado, J. Figueras, S. Di Carlo, P. Prinetto, N. Pricopi, H-J. Wunderlich, J-P. van der Hayden
The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 23, no. 6, 2007, págs. 1245-1253
ASIC mixto para un temporizador industrial
Emili Lupon, Luz Balado, R. Rodriguez Montanes
Actas del IX Congreso de Diseño de Circuitos Integrados, 9, 10 y 11 de noviembre de 1994, Maspalomas, Gran Canaria, 1994, págs. 485-490
Corriente quiescente de circuitos VLSI: Simulación del entorno analógico del defecto
Luz Balado, Joan Figueras Pamies, Antonio Rubio, V. Champac, Rosa Rodríguez Montañes, S. Segura
VII Congreso de Diseño de Circuitos Integrados: 3, 4 y 5 de noviembre de 1992, Toledo, España : actas, 1992, págs. 245-250
Mixed-signal alternate test and binning using digitally encoded signatures
Tesis doctoral dirigida por Joan Figueras Pamies (dir. tes.), Luz Balado (codir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (2017).
Tesis doctoral dirigida por Rafael Pindado Rico (dir. tes.), Luz Balado (dir. tes.), Inmaculada Martínez Teixidor (dir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (2012).
On-chip monitor for mixed-signal testing based on x-y zoning
Tesis doctoral dirigida por Luz Balado (dir. tes.). Universitat Politècnica de Catalunya (UPC) (2006).
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados