Periodo de publicación recogido
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IC security and quality improvement by protection of chip backside against hardware attacks
E. Amini, A. Beyreuther, N. Herfurth, A. Steiger-Garçao, R. Muydinov, B. Szyszka, C. Boit
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 22-25
Photon emission as a characterization tool for bipolar parasitics in FinFET technology
A. Beyreuther, N. Herfurth, E. Amini, T. Nakamura, I. De Wolf, C. Boit
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 273-276
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