T. Nakamura

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• Artículos de revistas

  • Non-invasive soft breakdown localisation in low k dielectrics using photon emission microscopy and thermal laser stimulation

    N. Herfurth, K.-C. Wu, A. Beyreuther, T. Nakamura, I. De Wolf, M. Simon-Najasek, F. Altmann, K. Croes, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 73-78

    • Resumen
    

  • Contactless parametric characterization of bandgap engineering in p-type FinFETs using spectral photon emission

    A. Beyreuther, I. Vogt, N. Herfurth, T. Nakamura, G.G. Fischer, B. Motamedi, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 143-148

    • Resumen
    

  • Device characterization of 16/14 nm FinFETs for reliability assessment with infrared emission spectra

    I. Vogt, T. Nakamura, B. Motamedi, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 11-15

    • Resumen
    

  • Photon emission as a characterization tool for bipolar parasitics in FinFET technology

    A. Beyreuther, N. Herfurth, E. Amini, T. Nakamura, I. De Wolf, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 273-276

    • Resumen
    

  • Detection of failure mechanisms in 24–40 nm FinFETs with (spectral) photon emission techniques using InGaAs camera

    I. Vogt, T. Nakamura, I. De Wolf, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 334-338

    • Resumen
    

  • Optical interaction in active analog circuit elements

    I. Vogt, T. Nakamura, C. Boit

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 233-237

    • Resumen
    

  • Learning Novel Objects for Extended Mobile Manipulation.

    T. Nakamura, K. Sugiura, T. Nagai, N. Iwahashi, T. Toda, H. Okada, T. Omori

    Journal of intelligent & robotic systems: Theory & applications, ISSN 0921-0296, Vol. 66, Nº. 1-2, 2012, págs. 187-204

    

  • Evaluation of crack nucleation site and mechanical properties for friction stir welded butt joint in 2024-T3 aluminum alloy.

    T. Okada, M. Suzuki, H. Miyake, T. Nakamura, S. Machida, M. Asakawa

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 50, Nº. 1-4, 2010, págs. 127-136

    

  • Contouring controller design for biaxial feed drive systems considering compliance of transmission mechanism.

    N. Uchiyama, S. Sano, T. Nakamura

    International journal of advanced manufacturing technology, ISSN 0268-3768, Vol. 44, Nº. 5-6, 2009, págs. 428-436

    

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