Sudipta Nath

• Artículos de revistas (4)

• Artículos de revistas

  • A novel technique for identification and fault distance evaluation of single line to ground faults in a non radial power system network using wavelet transform and artificial neural network

    Aritra Dasgupta, Sudipta Nath, Arabinda Das

    International journal of engineering intelligent systems for electrical engineering and communications, ISSN 0969-1170, Vol. 19, Nº 4, 2011, págs. 213-222

    

  • Temperature stability of a piezoresistive MEMS resonator including self-heating.

    S. Bendida, J.J. Koning, J.J.M. Bontemps, J.T.M. Van Beek, D. Wu, M.A.J. van Gils, Sudipta Nath

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1227-1231

    

  • Fast electromigration wafer mapping for wafer fab process monitoring and improvement.

    Y. Li, L. Van Marwijk, Sudipta Nath

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1388-1393

    

  • Experimental study of carrier transport in multi-layered structures.

    G. Tao, C. Ouvrard, H. Chauveau, Sudipta Nath

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 4-5, 2007, págs. 610-614

    

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