F. Beaudoin
Periodo de publicación recogido
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Artículos de revistas
Dynamic laser stimulation techniques for advanced failure analysis and design debug applications.
F. Beaudoin, K. Sanchez, P. Perdu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1517-1522
OBIRCH analysis of electrically stressed advanced graphic ICs.
J.Y. Liao, H.L. Marks, F. Beaudoin
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1565-1568
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