Periodo de publicación recogido
|
|
|
Lock-in thermography for defect localization and thermal characterization for space application
M. Mousnier, K. Sanchez, E. Locatelli, T. Lebey, V. Bley
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 88-90, 2018, págs. 67-74
Pattern image enhancement by automatic focus correction
Alessandro Boscaro, S. Jacquir, K. Sanchez, P. Perdu, S. Binczak
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 249-254
M. Sienkiewicz, P. Perdu, A. Firiti, K. Sanchez, O. Crepel, D. Lewis
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1529-1532
Dynamic laser stimulation techniques for advanced failure analysis and design debug applications.
F. Beaudoin, K. Sanchez, P. Perdu
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1517-1522
Guidelines elaboration for a self-building manual with earth in Chiapas State, Mexico
K. Sanchez
Earthen Architecture. Past, present and future: proceedings of the International Conference on Vernacular Heritage, Sustainability and Earthen Architecture, Valencia, Spain, 11-13 september 2014 / coord. por Camilla Mileto, Fernando Vegas López-Manzanares, Lidia García Soriano, Valentina Cristini, 2014, ISBN 978-1-13802711-4, págs. 333-338
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2025 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados