Periodo de publicación recogido
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A very unusual transistor failure, caused by a solenoid
P. Jacob, R. Furrer
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 102-105
New ESD challenges in RFID manufacturing
P. Jacob, U. Thiemann
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 395-399
Reading distance degradation mechanisms of near-field RFID devices.
P. Jacob, W. Knecht, A. Kunz, G. Nicoletti, T. Lautenschlager, M. Mondada, D. Pachoud
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1288-1292
P. Jacob, W. Rothkirch
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1253-1257
P. Jacob
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1608-1612
Device decapsulated (and/or depassivated) ¿ Retest ok ¿ What happened?.
P. Jacob, G. Nicoletti, F. Hauf
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1574-1579
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