P. Jacob

• Artículos de revistas (6)

• Artículos de revistas

  • A very unusual transistor failure, caused by a solenoid

    P. Jacob, R. Furrer

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 102-105

    • Resumen
    

  • New ESD challenges in RFID manufacturing

    P. Jacob, U. Thiemann

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 76-77, 2017, págs. 395-399

    • Resumen
    

  • Reading distance degradation mechanisms of near-field RFID devices.

    P. Jacob, W. Knecht, A. Kunz, G. Nicoletti, T. Lautenschlager, M. Mondada, D. Pachoud

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 1288-1292

    

  • Unusual defects, generated by wafer sawing: Diagnosis, mechanisms and how to distinguish from related failures.

    P. Jacob, W. Rothkirch

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1253-1257

    

  • Surface ESD (ESDFOS) in assembly fab machineries as a functional and reliability risk � Failure analysis, tool diagnosis and on-site-remedies.

    P. Jacob

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1608-1612

    

  • Device decapsulated (and/or depassivated) ¿ Retest ok ¿ What happened?.

    P. Jacob, G. Nicoletti, F. Hauf

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 9-11, 2007, págs. 1574-1579

    

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