Periodo de publicación recogido
|
|
|
A review of pulsed NBTI in P-channel power VDMOSFETs
D. Dankovic, I. Manic, A. Prijić, V. Davidovic, Z. Prijić, S. Golubovic, S. Djoric-Veljkovic, A. Paskaleva, D. Spassov, N. Stojadinovic
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 28-36
Metal gates and gate-deposition-induced defects in Ta2O5 stack capacitors.
E. Atanassova, D. Spassov, A. Paskaleva
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 47, Nº. 12, 2007, págs. 2088-2093
Esta página recoge referencias bibliográficas de materiales disponibles en los fondos de las Bibliotecas que participan en Dialnet. En ningún caso se trata de una página que recoja la producción bibliográfica de un autor de manera exhaustiva. Nos gustaría que los datos aparecieran de la manera más correcta posible, de manera que si detecta algún error en la información que facilitamos, puede hacernos llegar su Sugerencia / Errata.
© 2001-2024 Fundación Dialnet · Todos los derechos reservados