A.T. Hatzopoulos

• Artículos de revistas (2)

• Artículos de revistas

  • Thermal impedance measurement of integrated inductors on bulk silicon substrate

    M. Kałuża, B. Wiecek, G. de Mey, A.T. Hatzopoulos, V. Chatziathanasiou

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 73, 2017, págs. 54-59

    • Resumen
    

  • Degradation of n-channel a-Si:H/nc-Si:H bilayer thin-film transistors under DC electrical stress.

    N. Arpatzanis, A.T. Hatzopoulos, D.H. Tassis, C.A. Dimitriadis, F. Templier, M. Oudwan, G. Kamarinos

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 4, 2008, págs. 531-536

    

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