Periodo de publicación recogido
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J.J.M. Zaal, H.P. Hochstenbach, W.D. van Driel, G.Q. Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 8, 2009, págs. 846-852
Packaging influences on the reliability of MEMS resonators.
J.J.M. Zaal, W.D. van Driel, S. Bendida, Q. Li, J.T.M. Van Beek, G.Q. Zhang
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 48, Nº. 8-9, 2008, págs. 1567-1571
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