M. Rafik

• Artículos de revistas (5)

• Artículos de revistas

  • New perspectives in defect centric model for NBTI reliability

    D. Nouguier, G. Ghibaudo, X. Federspiel, M. Rafik, D. Roy

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 98, 2019, págs. 119-123

    • Resumen
    

  • On the cumulative distribution function of the defect centric model for BTI reliability

    D. Nouguier, G. Pananakakis, X. Federspiel, M. Rafik, D. Roy, G. Ghibaudo

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 168-171

    • Resumen
    

  • New NBTI models for degradation and relaxation kinetics valid over extended temperature and stress/recovery ranges

    D. Nouguier, X. Federspiel, G. Ghibaudo, M. Rafik, D. Roy

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 87, 2018, págs. 106-112

    • Resumen
    

  • An investigation into the role of engineering and technical education in providing the skills needed by libyan manufacturing industry

    N. Triki, N. Gupta, S. Wamuziri, M. Rafik

    The International journal of engineering education, ISSN-e 0949-149X, Vol. 26, no. 1, 2010, págs. 195-204

    • Resumen
    

  • Process dependence of BTI reliability in advanced HK MG stacks.

    X. Garros, M. Casse, M. Rafik, C. Fenouillet-Béranger, G. Reimbold, Fernando Martín Rubio, C. Wiemer, F. Boulanger

    Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Vol. 49, Nº. 9-11, 2009, págs. 982-988

    

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