Periodo de publicación recogido
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Life cycle trends of electronic materials, processes and components
Chien-Ming Huang, José A. Romero Paguay, Johannes Michael Ostermann, Diganta Das, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 99, 2019, págs. 262-276
Metallized film capacitors used for EMI filtering: A reliability review
Nathan Valentine, M.H. Azarian, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 92, 2019, págs. 123-135
Effective decapsulation of copper wire-bonded microelectronic devices for reliability assessment
Subramani Manoharan, Chandradip Patel, Patrick McCluskey, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 84, 2018, págs. 197-207
The effect of epoxy/glass interfaces on CAF failures in printed circuit boards
Bhanu Sood, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 82, 2018, págs. 235-243
Risk of tin whiskers in the nuclear industry
Chien-Ming Huang, Daniel Nunez, James Coburn, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 81, 2018, págs. 22-30
The phenomenon of tin pest: A review
Ben Cornelius, Shay Treivish, Yair Rosenthal, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 79, 2017, págs. 175-192
A review of lead-free solders for electronics applications
Shunfeng Cheng, Chien-Ming Huang, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 75, 2017, págs. 77-95
Interacting multiple model particle filter for prognostics of lithium-ion batteries
Xiaohong Su, Shuai Wang, Michael Pecht, Lingling Zhao, Zhe Ye
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 70, 2017, págs. 59-69
A perspective of the IPC report on lead-free electronics in military/aerospace applications
Aleksandra Fortier, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 69, 2017, págs. 66-70
RoHS compliance in safety and reliability critical electronics
Elviz George, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 65, 2016, págs. 1-7
A fusion prognostics-based qualification test methodology for microelectronic products
Michael Pecht, Tadahiro Shibutani, Myeongsu Kang, Melinda Hodkiewicz, Edward Cripps
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 63, 2016, págs. 320-324
Yi Wan, Hailong Huang, Diganta Das, Michael Pecht
Microelectronics reliability, ISSN 0026-2714, Nº. 56, 2016, págs. 182-188
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